Français
Ok
Rechercher Ok
Microscope thermique à sonde locale
Dispositif pour la métrologie, caractérisation et contrôle non destructif thermique à l'échelle nanométrique.
Projet FUI MC+ (ICMCB, I2M, Safran, Nexans, Sogerma)
Mots clés :
Mise à jour le 27/03/2018
Jean-Luc Battaglia
Contacter par courriel
Andrzej Kusiak