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MICROSCOPIE ET ANALYSES
Préparation d'échantillon
Contacts
Nous mettons à disposition du matériel pour la préparation d’échantillons pour la microscopie, les analyse électrochimique et physico-chimiques et les cartographies. Ce matériel est utilisable après une formation préalable.
Matériel :
- tronçonneuse et micro- tronçonneuse
- Enrobage à chaud et à froid
- polisseuses Buehler (manuelle ou automatique)
- Polissage électrolytique
- Dispositif d’attaque électrochimique
- Métalliseur à l’or
Métalliseur Or Cressington 108 Auto
Microscopes numériques et optiques
Contacts
Microscopes numériques Keyence - Grossissements de x20 à x5000
- VHX 7000
- VHX 2000
- 2VHX 1000 (pouvant être déplacé temporairement sur un dispositif expérimental)
Microscopes optiques
- Olympus métallographiques PMG3
- Olympus GX51 avec une platine motorisée et le logiciel Stream
Loupe binoculaire ZEISS
Analyse dimensionnelle et rugosité
Microscopes à force atomique (AFM) - Mesure optique 3D de rugosité
Ce sont des microscopes à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d’un échantillon. Nous disposons de deux modèles. Ce sont des dispositifs de recherche.
Nanosurf EasyScan 2
Dispositif utilisable avec une pointe classique et une pointe SThM.
Avec une pointe SThM, il est possible de faire des mesures de conductivités thermiques et de résistance thermique aux interfaces (dispositif 3-omega présenté dans la plateforme CND-END)
Dimension 3100 de 1998 (BRUKER) avec boite et table acoustique
Topographie en interaction atomique, Magnétisme (MFM) et Potentiel (KPFM).
Microscopes Electroniques à Balayage et caractérisations physico-chimiques
A l'Institut, nous disposons d’un microscope de palliasse et de deux Microscopes Electroniques à Balayage avec chacun leurs spécificités.
Microscope à balayage de table Hitachi TM3000
Contact
MEB FEG ZEISS SIGMA 300
Contact
- Analyse chimique élémentaire : Spectromètre à sélection d’énergie (EDS) Brücker
- A venir prochainement : Analyse cristallographique : Diffraction d’électrons rétrodiffusés (EBSD)
- Machine d’essais (thermo)mécaniques in situ MEB Kammrath& Weiss
- Essais monotones ou cycliques en traction et compression
- Essais monotones ou cycliques en traction et compression
Plateau de recherche MACAM
MEB Quanta FEG 250 Thermofisher
- Analyse chimique élémentaire : Spectromètres à sélection d’énergie (EDS) et à dispersion de longueur d’ondes (WDS) EDAX
- Analyse vibrationnelle : Spectromètre Raman Renishaw (laser 532 nm – système SEMSCA)
- Platines Peltier (-25 à 55°C) et chauffante (1000°C)
Microscope optique confocal Raman InVIA de Renishaw
- 2 lasers : 532nm et 785nm (dont le 532nm couplé aussi au MEB)
- platine chauffante 1000°C Linkam
Tomographie
Contact
Microtomographie basse résolution SkyScan 1174v2 de 2012 (BRUKER)
- Spécifications :
- Taille du voxel : 10-30 µm
- Taille des objets : 5-30 mm (diamètre), 50mm (hauteur)
- Mesures in situ :
- Traction/Compression : cellule 42N
- Chauffage : 60°C
Pour le Microtomographe V|tome|X – S (General Electric) à Placamat-PESSAC, Jérôme Malvestio est la personne contact I2M et a un accès en tant qu’utilisateur autonome sur l’appareil
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