SThM

Microscope thermique à sonde locale

Descriptif

Dispositif pour la métrologie, caractérisation et contrôle non destructif  thermique à l'échelle nanométrique. 

Financement

Projet FUI MC+ (ICMCB, I2M, Safran, Nexans, Sogerma)

Mise à jour le 27/03/2018

Encadrement

Jean-Luc Battaglia


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Andrzej Kusiak

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